NI PXIE-4145 блок питания и измерительный модуль

Высокоточная интеграция источника и измерителя: Интегрирует функции источника напряжения (VS), источника тока (IS), измерения напряжения (VM) и измерения тока (IM), поддерживает четырехквадрантную работу для имитации характеристик источника питания или нагрузки.

Широкий диапазон параметров: Поддерживает выход/измерение тока от пикоампер (pA) до ампер (A) и выход/измерение напряжения от милливолт (mV) до вольт (V), адаптируется к тестовым потребностям различных устройств.

Возможность динамического тестирования: Поддерживает импульсный режим (минимальная ширина импульса до микросекунд) и режим сканирования (изменение напряжения/тока по наклону) для анализа переходных характеристик (например, характеристик переключения светодиода, сопротивления открытия MOSFET).

Реальное время мониторинга и защита: Встроенные механизмы защиты от пере напряжения и пере тока, поддерживает измерение динамического сопротивления (DRM) и сканирование ВАХ для получения полных характеристических кривых при одновременном избежании повреждения устройства.

Тестирование полупроводниковых приборов: Тестирование параметров порогового напряжения, утечки тока, пробойного напряжения и других для диодов, транзисторов (BJT/MOSFET) и интегральных схем (IC).

Анализ электрических свойств материалов: Характеризация вольтамперных характеристик наноматериалов (например, графена), датчиков (пиезорезистивных, емкостных) и фотоэлектрических устройств (солнечных элементов).

Тестирование батарей и энергонакопителей: Измерение кривой заряда-разряда литий-ионных батарей, оценка емкости суперконденсаторов и тестирование поляризационной кривой топливных элементов.

Научные исследования и учебные эксперименты: Эксперименты по электронным курсам, верификация электрических свойств при разработке новых материалов и калибровка датчиков.

Интерфейс PXIE: Совместим с шасси PXIE (например, NI PXIE-1075), поддерживает высокоскоростную передачу данных PCIe Gen2 (ширина полосы до 500 МБ/с) для уменьшения задержки данных.

Сигнальный интерфейс: Подключается к устройствам через специальные разъемы, такие как NI SMU-2475A, поддерживает четырехпроводной тест Кельвина (исключение влияния сопротивления проводов) и адаптируется к коаксиальным кабелям или банановым вилкам.

Интерфейс триггера и тактового сигнала: Интерфейс SMA для входа/выхода внешнего триггера, поддерживает синхронный триггер с другими модулями PXIE (например, осциллографом NI PXIE-5105) для построения многопараметрических тестовых систем.

Операционные системы: Windows 10/11, Linux, LabVIEW Real-Time и др.

Драйверы программного обеспечения: Совместимы с драйверами NI-SMU, поддерживают среды разработки, такие как LabVIEW, C/C++, Python и MATLAB, и могут быть интегрированы в автоматизированные тестовые процессы.

Драйвер NI-SMU: Предоставляет единый API, поддерживает настройку параметров источника и измерителя, реальное время сбора и анализа данных и синхронный контроль нескольких каналов.

LabVIEW: Графическая платформа программирования с встроенными наборами инструментов SMU (например, шаблоны сканирования ВАХ, импульсных тестов) для снижения порога разработки.

Интерфейсы Python/C#: Поддерживают контроль на уровне кода с помощью библиотек, таких как PyVISA и NI-DAQmx, подходящие для интеграции в автоматизированные тестовые системы (например, платформы тестирования полупроводниковых пластин).

Система тестирования полупроводников NI: Автоматизированный набор тестов для полупроводниковых приборов, включая функции, такие как извлечение параметров и анализ выхода.

NI-DCPower: Программное обеспечение управления источником постоянного тока, поддерживающее пакетную настройку многоканальных модулей SMU и создание тестовых отчетов (например, в формате Excel, PDF).

MATLAB/Simulink: Поддерживает импорт данных и разработку продвинутых алгоритмов (например, подгонка модели устройства, анализ шума).

Высокая точность и широкий динамический диапазон: Разрешение тока 1 пА и разрешение напряжения 1 мкВ удовлетворяют тестовым потребностям наноскальных устройств (например, одноэлектронных транзисторов), что делает его более подходящим для интеграции в модульную систему, чем традиционные стационарные SMU (например, Keithley 2400).

Высокоскоростная синхронизация и автоматизация: Частота дискретизации 1 Мс/с в сочетании с шиной PXIE поддерживает параллельное тестирование нескольких каналов (например, калибровка массива датчиков), сокращая время тестирования.

Низкошумный дизайн: Встроенные низкошумные источники питания и экранирующие цепи снижают фоновый шум измерения (шум тока до 1 фА/√Гц), подходящие для характеристики слабых сигналов (например, тестирования утечки тока датчика).

Гибкая расширяемость: Может быть объединен с модулями, такими как NI PXIE-4139 (высокомощный SMU) и PXIE-5451 (генератор произвольных форм сигналов), для построения полных решений от возбуждения сигнала до анализа характеристик.