Главная > Продукты > Тест физических свойств > CTS-PA22T реальное время 3D полный фокус специальный прибор для болтов
CTS-PA22T реальное время 3D полный фокус специальный прибор для болтов
- shenzhen
- T/T Кредитная карта
Вам может понравиться
-
DSC-500LC Ультрафиолетовый дифференциальный сканирующий калориметр
-
YND-B1 Дифференциальный сканирующий калориметр
-
Тестер высвобождения галогенсодержащих кислотных газов RS-900B
-
JC2000YKC Анализатор контактного угла с вогнутыми и выпуклыми поверхностями
-
JC2000C1 прибор для измерения контактного угла
-
Анализатор пористости мембран MPS-1000
Детали продукта
Название бренда | SHANCHAO | Место производства | Shaanxi, China | |
Модельный номер | CTS-PA22T |
Описание продукта
Введение:
Система CTS - PA22T использует трехмерное изображение для обнаружения болтов или штифтов. Шаблон можно поворачивать и наблюдать. Идентификация дефектов проста, скорость обнаружения высокая, а среднее время обнаружения одного штифта составляет 2 секунды. Результат обнаружения надежен, а повреждения легко заметить. Профессиональные навыки оператора можно приобрести без необходимости овладеть инструментом и подключать зонд по установленному методу. Только один день операционного обучения позволяет овладеть методом дефектоскопии.
Основанная на полной матричной записи (FMC), технология ультразвукового изображения по методу полной фокусировки (TFM) в последние годы стала популярной темой исследований в области ультразвукового обнаружения из-за своей высокой разрешающей способности и гибкого алгоритма. В настоящее время исследования, проводимые отечественными и зарубежными исследователями по технологии полной фокусировки, в основном сосредоточены на двумерной полнофокусной визуализации с использованием одномерного линейного массива.
Система CTS - PA22T собирает данные о трехмерной пространственной информации в реальном времени на основе двумерных зондов с матричной структурой и реализует трехмерную полнофокусную визуализацию в реальном времени на аппаратном уровне, используя высокоскоростные параллельные вычислительные возможности чипа. Результаты детекционного изображения очень наглядны и могут точно восстановить общую внутреннюю структуру детали, чтобы достичь эффекта детекции, когда все видно и контролируется.
Технические параметры: