Лабораторный атомно-силовой микроскоп для исследований

Особенности и описание

1. Многоканальные изображения захватываются и отображаются синхронно, профильная карта наблюдается в реальном времени.
   2. Получение и измерение многих кривых, таких как F-Z, f-RMS, RMS-Z
   3. Выполнение функций перемещения и обрезки области сканирования, выбор любой интересной области образца.
   4. Сканирование образца под произвольным углом вначале.
   5. Регулировка системы детектирования лазерного пятна в реальном времени.
   6. Поиск резонансной частоты наконечника вручную или автоматически.
   7. Выбор и установка различных цветов сканируемых изображений в палитре.
   8. Поддержка линейного усреднения и калибровки смещения в реальном времени для образца.
   9. Поддержка калибровки чувствительности сканера и автоматической калибровки электронного контроллера.
   

   
   

Применение

Моноблочное исполнение, интеллектуальная конструкция и форма. Голова сканера и столик для образца спроектированы вместе, высокая устойчивость к вибрациям. Точная лазерная система детектирования и приспособление для совмещения зонда позволяют легко регулировать лазер. Используется серводвигатель для привода приближения образца к наконечнику вручную или автоматически, чтобы обеспечить точное позиционирование области сканирования. Высокоточный и широкодиапазонный механизм перемещения образца позволяет сканировать любую интересную область образца; различные типы сканеров удовлетворяют требованиям разных клиентов по точности и размеру сканирования; оптическая система наблюдения для контроля наконечника и позиционирования образца. Система наблюдения на основе CCD для наблюдения и позиционирования области образца в реальном времени; серводвигатель используется для автоматического фокусировки CCD. Электронная система выполнена модульной, проста в обслуживании и развитии. Интегрирована с электронными блоками управления многими режимами работы для дальнейшего развития.

Технические данные

Упаковка и доставка

Упаковка: Деревянный ящик

Доставка: 5 дней