IEC61032 IP2X test probe ict test probe

Packed with Aluminum Foil box +carton box

 IEC61032 IP2X test probe ict test probe pin  

Article NO.: BND-B

Technical Parameters:

According to :IEC60065, IEC 60335-1, IEC 60529, IEC60884-1, IEC60950, IEC61032, IEC69745-1

Technical Parameters:

1, Knurled Finger Diameter:12mm

2, Knurled Finger Length :80mm

3, Baffle Plate Diameter :50mm

4, Baffle Plate Length : 100mm

Application:

1, The joint part of  The Standard Test Knurled Finger Probe can't touch the live parts or close to the dangerous parts, and 50 mm to 20 mm baffle plate cannot enter.

2, In the prevent electric shock test, wires , power devices, and lighting devices are needed.

3Both joints shall permit movement in the same plane and the same direction through an angle of 90° with a 0° to +10° tolerance

NOTE 1:Using the pin and groove solution is only one of the possible approaches in order to limit the bending angle to 90°. For this reason, dimensions and tolerances of these details are not given in the drawing. The actual design must insure a 90° bending angle with a 0° to + 10° tolerance.

NOTE 2: Dimensions in parentheses are for information only.

NOTE 3: The test finger is taken from IEC 60950-1, Figure 2A. That test finger is based on IEC 6103216), Figure 2,test probe B. In some cases, the tolerances are different.

Company Profile

Shenzhen Bonad Instrument Co., Ltd.

 14 Stanards drafted and issued by Labthink  -- 100 Patents granted by Labthink -- 410 m2 Laboratory to provide testing services  -- 20 years experienced lab technicians to provide solutions -- 12 months warranty  -- Remote Services (Free of Charge allthrough lifetime)

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